Дополнительное образование и повышение квалификации
НОЦ ФМНС осуществляет свою деятельность в кооперации с ведущими научными и исследовательскими организациями России и проводит курсы повышения квалификации.
Центр осуществляет профессиональную переподготовку специалистов по следующим направлениям:
1. Учебная программа повышения квалификации «Спектральные оптико-зондовые методы диагностики»
Программа направлена на профессиональное развитие слушателя посредством формирования его профессиональной компетенции: проведение исследований физико-химических свойств поверхности материалов методами конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния света, конфокального флуоресцентного анализа, сканирующей ближнепольной оптическая микроскопия (СБОМ), зондовоусиленной КР /флуоресцентная спектроскопии (TERS, TEFS).
2. Образовательная программа дополнительного профессионального образования (профессиональной переподготовки) в области нанесения наноструктурированных упрочняющих покрытий деталей.
Программа дополнительного профессионального образования предназначена для переподготовкиинженерно-технических специалистов, ориентированная на реализацию инвестиционных проектов в области нанесения наноструктурированных упрочняющих покрытий деталей, в т.ч. получения термобарьерных наноструктурированных покрытий деталей газотурбинных двигателей. Программа реализует двухуровневую систему переподготовки, что обеспечивает приобретение слушателями необходимых компетенций, и позволяет реализовать элементы планирования карьеры работников с дальнейшим привлечением их к трудовой деятельности, максимально соответствующей их способностям и компетенциям.
Данная образовательная программа создана по заказу Фонда инфраструктурных и образовательных программ (ФИОП), ОАО «Роснано».
Также в центре проходит:
- Обучение студентов работе на современном оборудовании "Индустрии наносистем";
- Проведение дипломных, курсовых и научных работ студентов;
- Вовлечение студентов в собственные НИОКР Центра;
- Разработка учебно-методических материалов;
- Обучение современным методам и методикам "Нанометрологии".