ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ 
Бауманская интегральная фотоника признана лучшей в мире
НОЦ ФМН - призер в номинации Best Innovation международной премии Optoelectronics Technology Innovation Award
Публикации
2012
МОДИФИКАЦИЯ ПОВЕРХНОСТИ СИНТЕТИЧЕСКОЙ ОПАЛОВОЙ МАТРИЦЫ ВАКУУМНЫМИ МЕТОДАМИ
НАНОИНЖЕНЕРИЯ , № 1
Авторы
ПРИМЕРЫ РАСЧЕТА СФЕРИЧЕСКОЙ АЭРОСТАТИЧЕСКОЙ ОПОРЫ С УЧЕТОМ СМЕЩЕНИЙ И СКОРОСТИ ШПИНДЕЛЯ
Авторы
Расчет сферических аэростатических опор при заданном смещении и скорости шпинделя
Авторы
Исследование наноструктурных сцинтилляционных материалов с использованием источника синхротронного излучения
Литвак Ю.Н., Михалев П.А., Макеев М.О., Панфилов Ю.В., Потловский К.Г.
Издательство: Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (Москва), Наука и образование: научное издание МГТУ ИМ. Н.Э. БАУМАНА № 12 (2012)
Издательство: Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (Москва), Наука и образование: научное издание МГТУ ИМ. Н.Э. БАУМАНА № 12 (2012)
Авторы
Исследование сцинтилляционных свойств наноструктурных детекторов
Панфилов Ю.В., Михалев П.А., Литвак Ю.Н., Булынко А.В.
Издательство: Издательский дом "Наука образования" (Москва), НАУЧНОЕ ОБОЗРЕНИЕ №5 (2012)
Издательство: Издательский дом "Наука образования" (Москва), НАУЧНОЕ ОБОЗРЕНИЕ №5 (2012)
Авторы
Исследование деградации изоляционных материалов космического назначения с защитными газонепроницаемыми слоями под воздействием факторов открытого космоса
Михалев П.А., Макеев М.О., Литвак Ю.Н., Башков В.М., Осипков А.С.
Издательство: Московский технологический университет (МИРЭА) (Москва), Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения том 12 №2 (2012)
Издательство: Московский технологический университет (МИРЭА) (Москва), Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения том 12 №2 (2012)
Авторы
Сцинтилляционные свойства наноструктурных материалов для композиционных детекторов ионизирующих излучений
Астахов М.В., Панфилов Ю.В., Селезнев В.В., Литвак Ю.Н., Михалев П.А., Макеев М.О.
Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 1 (2012)
Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 1 (2012)
Авторы
Разработка стенда для исследования стойкости материалов к воздействию факторов космического пространства
Янович С.В., Литвак Ю.Н., Михалев П.А., Башков В.М.
Издательство: Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (Москва), Инженерный вестник № 11 (2012)
Издательство: Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (Москва), Инженерный вестник № 11 (2012)
Авторы
ИССЛЕДОВАНИЕ ДЕГРАДАЦИИ ИЗОЛЯЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ КОСМИЧЕСКОГО НАЗНАЧЕНИЯ С ЗАЩИТНЫМИ ГАЗОНЕПРОНИЦАЕМЫМИ СЛОЯМИ ПОД ВОЗДЕЙСТВИЕМ ФАКТОРОВ ОТКРЫТОГО КОСМОСА
Михалев П.А., Макеев М.О., Литвак Ю.Н., Башков В.М., Осипков А.С.
Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения
Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения
Авторы
2011
ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ НАНОСИСТЕМ
Макарчук В.В., Родионов И.А.
Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 5
Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 5
Авторы
АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ
Власов А.И., Зинченко Л.А., Макарчук В.В., Родионов И.А.
Учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 13
Учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 13
Авторы
МЕТОДЫ ЛИТОГРАФИИ В НАНОИНЖЕНЕРИИ
Макарчук В.В., Родионов И.А., Цветков Ю.Б.
Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 8
Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 8
Авторы
ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ НАНОСИСТЕМ
Макарчук В.В., Родионов И.А.
Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 5
Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 5
Авторы
АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ
Власов А.И., Зинченко Л.А., Макарчук В.В., Родионов И.А.
Учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 13
Учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 13
Авторы
МЕТОДЫ ЛИТОГРАФИИ В НАНОИНЖЕНЕРИИ
Макарчук В.В., Родионов И.А., Цветков Ю.Б.
Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 8
Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 8
Авторы
Исследование процессов газовыделенияпленкоосаждения неметаллических материалов при термовакуумном воздействии методами нанодиагностики
Бодин В.В., Башков В.М., Михалев П.А.
Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 3 (2011)
Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 3 (2011)
Авторы
Методика ускоренных испытаний для оценки газовыделения материалов космического назначения с использованием методов нанодиагностики
Литвак Ю.Н., Макеев М. О., Михалев П.А., Башков В.М.
Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 6 (2011)
Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 6 (2011)
Авторы
Использование метода ИК-спектроэллипсометрии для определения толщины слоя образца ПТФЭ, модифицированного в разряде постоянного тока
Макеев М.О., Иванов Ю.А., Мешков С.А., Гильман А.Б., Яблоков М.Ю.
Химия Высоких Энергий. 2011. Т. 45, № 6. С. 574?576
Химия Высоких Энергий. 2011. Т. 45, № 6. С. 574?576
Авторы
Application of IR ellipsometry to determination of the film thickness of a polytetrafluoroethylene sample modified in direct-current discharge
M.O. Makeev, Yu.A. Ivanov, S.A. Meshkov, A.B. Gil’man and M.Yu. Yablokov
High Energy Chemistry. 2011. V. 45, N. 6. P. 536-538
High Energy Chemistry. 2011. V. 45, N. 6. P. 536-538
Авторы
2010
Исследование методов калибровки процессных OPC моделей VT-5 с переменным порогом чувствительности
Родионов И.А.
Микроэлектроника. 2010. Том 39, № 6, с. 468–480.
Микроэлектроника. 2010. Том 39, № 6, с. 468–480.
Авторы
